良率有四个分母:先定分母,再谈数字
一块 4K 屏 2,488 万颗芯片,说「良率 99.99%」而不说分母,等于什么都没说。拆这件事的第一步不是讲激光,是把四道工序各自的分子分母列出来。
| 工序 | 测什么 | 判据 / 口径 | 分母是什么 |
|---|---|---|---|
| 来料 | 波长、亮度、单颗缺陷 | 波长偏差、亮度分档 | 晶圆上的芯片总数 |
| 转移后 | 落位、缺颗、偏移 | 偏移 P99、缺颗率 | 应落位颗数 |
| 修复后复检 | 坏点是否补上 | 修复成功率、复检通过率 | 初始坏点数 |
| 压合后点亮 | 满像素点亮 | 满像素点亮率(披露值 70%) | 背板像素数 |
把四行并排看,会看到一个反直觉的结论:转移那一行的数字最好看,也最没用。99.996% 乘上 2,488 万颗,仍差近一千个坏点;这些坏点由谁修、修多久、修完成本记在哪一行,决定了对外披露的终检良率能到几个 9。
01测试序列:五道扫描,不是一道
全流程实际要做五次全片扫描:LED 晶圆来料、临时基板、巨量转移后、TFT 背板异常、封装贴膜后。转移只做一次,扫描做五次;每次修复之后还要复检,复检又是一次全片扫描。所以「检测吞吐」这个指标必须按次算而不是按片算——一次 28 秒,五次 140 秒,再乘返工次数。
写测试大纲时容易被漏掉的一项是修复后复检的通过率:它决定检测站是单次通过还是循环,循环一次,整线节拍就翻倍。这一项在厂商宣传里几乎不出现,但它才是「修完成本」的真实来源。
02能进验收文件的只有三条量
三条互不依赖的量:落位偏移分布(看 P99,不看均值)、单屏坏点数(分母 2,488 万颗)、满像素点亮率(压合后)。前两条描述设备能力,第三条描述线体能力。宣传口径把三者揉成一个「良率」,这就是同一家公司换个场合数字能差一个数量级的原因。
对方只给百分比、不给分母时,先问三件事:分母是应落位数还是终检良品数;含不含修复补上的芯片;统计时点在压合前还是压合后。三个答案不同,数字不可横比。